沖擊試樣缺口新突破

概述

沖擊試驗(yàn)將沖擊試驗(yàn)缺口的尺寸要求非常嚴(yán)格，微小的變化，都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)誤差，為了確保將沖擊試驗(yàn)缺口制樣合格，缺口檢驗(yàn)尤其重要，也是目前主要的檢測(cè)方法，目前市面上大多用于光學(xué)放大鏡，模板對(duì)比的方式，通過(guò)投影，將試樣投影到模板上，再通過(guò)人工調(diào)節(jié)，對(duì)比，判斷邊緣來(lái)確定缺口是否合格，這種方式弊端很多，1、光，采用的傳統(tǒng)鹵素?zé)粽彰鳎庹詹皇瞧叫泄?，這樣會(huì)對(duì)試樣造成不必要的陰影，這樣會(huì)影像人為的判斷，使測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)偏差，尤其是再遇到合格與否的試樣，更難以保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。2、人為判斷缺口邊緣，每個(gè)人判斷的方式都有差異，100個(gè)人檢測(cè)會(huì)出現(xiàn)100個(gè)結(jié)果，這樣檢測(cè)結(jié)果人為因素很嚴(yán)重。3、效率慢，試樣擺放要通過(guò)人為去調(diào)整，試樣測(cè)量時(shí)必須呈水平，否則影像測(cè)量結(jié)果，前后左右上下的調(diào)整，使測(cè)量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力效率低。4、測(cè)量結(jié)果只能是大概，通過(guò)人為判斷，結(jié)果不能保存起來(lái)，不變以后對(duì)試樣的復(fù)查，尤其是仲裁時(shí)，無(wú)法提供檢測(cè)數(shù)據(jù)以及說(shuō)明。

例如對(duì)夏比沖擊V型缺口試樣來(lái)說(shuō)，GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》、ISO 148-1 2009《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī) 第1部分：試驗(yàn)方法》中要求，V型缺口深度2mm加工偏差范圍是±0.075，缺口角度為45°加工偏差為±2°，缺口底部半徑0.25mm加工偏差為0.025mm這樣的偏差范圍用肉眼去判斷是很難做到了，肉眼判斷0.1mm的誤差都非常吃力，更不用說(shuō)0.025等誤差了。美標(biāo)更嚴(yán)格。

TOP-AMIG一鍵沖擊缺口測(cè)量分析儀，是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需求盒按照GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》、ISO 148-1 2009《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī) 第1部分：試驗(yàn)方法》、ASTM E23，新研發(fā)的與夏比V型U型缺口加工檢驗(yàn)的設(shè)備“一鍵沖擊缺口測(cè)量分析儀”測(cè)量缺口只需2部就可以完成，步：將試樣放到試樣臺(tái)上（測(cè)量視場(chǎng)范圍內(nèi)），第二部：點(diǎn)擊測(cè)量按鈕，測(cè)量結(jié)果瞬間得出。

原理

該測(cè)量?jī)x利用光學(xué)拍攝的方法，將沖擊試驗(yàn)V型U型缺口全貌采集到顯示器上，本測(cè)量?jī)x采用的千萬(wàn)像素相機(jī)及鏡頭以及機(jī)器視覺(jué)的平行光源，對(duì)試樣垂直照射，不會(huì)對(duì)試樣造成任何陰影，使缺輪廓清晰的顯示出來(lái)，通過(guò)離析像素技術(shù)，準(zhǔn)確自動(dòng)判定缺口邊緣，對(duì)缺口測(cè)量。

特點(diǎn)

該測(cè)量?jī)x，利用光學(xué)圖像技術(shù)將被測(cè)沖擊試樣V型U型缺口通過(guò)千萬(wàn)像素的相機(jī)及鏡頭，將圖像采集到顯示器上，再通過(guò)我公司軟件的離析像素金屬測(cè)量缺口尺寸。

測(cè)量缺口尺寸只需2部完成，部，將試樣放到試樣臺(tái)上，第二部點(diǎn)擊測(cè)量按鈕進(jìn)行測(cè)量，瞬間得出數(shù)據(jù)。主要的是試樣的擺放無(wú)需水平、垂直，只要將被測(cè)部分放到視場(chǎng)范圍內(nèi)，隨意擺放均可。離析像素技術(shù)自動(dòng)判斷，沒(méi)有任何人為因素，100個(gè)人測(cè)量得出的結(jié)果只有1中。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量視場(chǎng)：10*10mm

測(cè)量精度：0.01mm

測(cè)量分辨率：0.001mm

工作臺(tái)尺寸：100*100

光源：機(jī)器視覺(jué)平行光源

相機(jī)及鏡頭：1000萬(wàn)像素

測(cè)量方式：一件測(cè)量